X射线厚度/面密度仪
采用高精度X射线透射技术，实现对金属箔、薄膜、极片等材料的非接触式在线厚度和面密度同步测量，典型精度可达±0.1μm / ±0.1 g/m²，支持全幅面扫描与MES系统无缝对接。
X射线检测系列
X射线厚度/面密度仪
采用高精度X射线透射技术，实现对金属箔、薄膜、极片等材料的非接触式在线厚度和面密度同步测量，典型精度可达±0.1μm / ±0.1 g/m²，支持全幅面扫描与MES系统无缝对接。
核心特点
非接触式无损测量
厚度与面密度同步检测
±0.1μm / ±0.1 g/m² 高精度
全幅面O型/C型扫描架
自动校准与标定功能
支持MES/PLC闭环控制
实时数据统计与SPC分析
多种报警输出方式
技术参数
| 参数项目 | 指标 |
|---|---|
| 测量原理 | X射线透射法 |
| 测量范围 | 0.5μm - 500μm（厚度）/ 5-1000 g/m²（面密度） |
| 测量精度 | ±0.1μm / ±0.1 g/m² |
| 扫描速度 | 0-100m/min |
| 适用幅宽 | 100-2500mm |
| 采样频率 | 最高5000Hz |
| 工作温度 | 0-45℃ |
| 电源要求 | 220V±10% 50Hz |
| 通信接口 | RS485 / Ethernet / Profinet |
应用场景
1
锂电正负极片2
铜箔铝箔3
金属箔材4
电池隔膜5
涂覆材料推荐行业
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