精密涂布检测方案
为各类精密涂布工艺提供专业检测方案，涵盖涂布厚度、面密度、缺陷等关键参数的在线检测与闭环控制，支持多种涂布方式和材料类型。
行业应用方案
精密涂布检测方案
为各类精密涂布工艺提供专业检测方案，涵盖涂布厚度、面密度、缺陷等关键参数的在线检测与闭环控制，支持多种涂布方式和材料类型。
行业痛点
痛点 1
涂布厚度波动大、一致性差
痛点 2
首尾料浪费严重
痛点 3
工艺调整滞后、依赖经验
痛点 4
涂层缺陷难以发现
痛点 5
质量数据不完整
测控方式
1
X射线面密度检测（涂布量）
2
近红外/光谱共焦测厚（涂层）
3
白光干涉多层膜厚检测
4
CCD缺陷检测（表面）
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X射线厚度/面密度仪
采用高精度X射线透射技术，实现对金属箔、薄膜、极片等材料的非接触式在线厚度和面密度同步测量，典型精度可达±0.1μm / ±0.1 g/m²，支持全幅面扫描与MES系统无缝对接。
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光谱共焦测厚
采用光谱共焦位移传感技术的高精度厚度测量设备，适合透明/半透明材料的非接触式精密测厚，尤其适用于精密涂布和光学级产品检测。
光学检测系列
白光干涉测厚
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CCD缺陷检测
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核心优势
涂布量精确控制
多层涂布同时检测
闭环控制减少浪费
缺陷实时报警
工艺数据追溯
落地效果
+90%
涂布精度
-60%
首尾料浪费
-70%
调机时间
100%
数据追溯
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